実験項目:
(1)クロックIC(555)による発振回路の製作、周波数可変特性・出力波形の測定
(2)NANDゲート(74LS00)を用いて論理回路を製作、ブール理論との比較
(3)4bit入力16LED表示器の製作
(4)NANDゲート(74LS00)を用いてD-FFを構成、動作確認及び2bitUpカウンタの構成、動作確認
(5)ディジタルIC(74LS73、74LS86)を用いてUp/Downカウンタを構成、動作確認
(6)U/Dカウンタ専用IC(74LS169)によりUp/Downカウンタの動作確認
4.実験方法
1)クロックIC(555)による発振回路
図1(a)の回路を製作し、コンデンサ及び抵抗を変更することにより、低周波・中間・高周波の3種類の周波数が発生できるようにする。式(3)、(4)にそれぞれの値を代入して計算したDuty比と周波数を、Voutの実測値と比較する。使用した素子値及びDuty比と周波数の計算値を表6に示す。
ディジタル回路の製作
2004.12.17.
実験計画書
発信器用IC及びディジタルICによるディジタル回路の製作
実験項目:
(1)クロックIC(555)による発振回路の製作、周波数可変特性・出力波形の測定
(2)NANDゲート(74LS00)を用いて論理回路を製作、ブール理論との比較
(3)4bit入力16LED表示器の製作
(4)NANDゲート(74LS00)を用いてD-FFを構成、動作確認及び2bitUpカウンタの構成、動作確認
(5)ディジタルIC(74LS73、74LS86)を用いてUp/Downカウンタを構成、動作確認
(6)U/Dカウンタ専用IC(74LS169)によりUp/Downカウンタの動作確認
実験計画:(略)
1.目的
●発信器IC、ディジタルICの使用法を習得する。
●4bit入力16-LED表示器を製作する。
●U/Dカウンタの使用法を習得する。
2.実験に使用した試料および機材
表1:実験に使用した試料
No. 品名 型番 メーカー 規格等 1 クロックIC 555 Fairchild Semiconductor 2 NANDゲート 74LS00 ...